三綜合試驗箱之技術(shù)概要介紹

發(fā)布日期：2016-11-12      瀏覽次數(shù)：2813

測試目的：

是在實驗室內(nèi)模擬電子產(chǎn)品在運輸、存儲和使用過程中經(jīng)受到的綜合環(huán)境應(yīng)力及其影響。

適用產(chǎn)品范圍：

適用于受到綜合環(huán)境影響的產(chǎn)品，如在各種運輸工具上使用的電子產(chǎn)品。主要是用于車載產(chǎn)品，汽車，火車、等相對環(huán)境復(fù)雜且綜合應(yīng)力較多產(chǎn)品。

測試標準：

   GJB1032-90電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法.
   GJB/Z34-93電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選指南

綜合環(huán)境廣泛應(yīng)用于環(huán)境適用性試驗，以及可靠性試驗。綜合環(huán)境測試是 兩種環(huán)境應(yīng)力相結(jié)合的因素。綜合環(huán)境的作用與單環(huán)境的作用相比，綜合環(huán)境的作用能更真實、更實際地反應(yīng)出產(chǎn)品在現(xiàn)場使用中的性能，更能暴露產(chǎn)品的缺陷。這是因為幾種環(huán)境因素同時對產(chǎn)品作用比單應(yīng)力因素作用具有加強作用。 

三綜合試驗設(shè)備（電磁振動臺+快速溫變試驗箱）

試驗設(shè)備參數(shù)：

          溫度：-70℃~150℃

          溫變率：15℃/min

          濕度：25%~98%RH（20℃~80℃）如下圖

          振動：電磁振動、單軸式、隨機、正弦、（LDS-V850-440 LPT 750COMBO）

          振動與溫度控制為兩個單獨的控制。

          設(shè)備尺寸：寬1.0× 高1.2 × 深1.0  (溫箱)  

          振動臺面尺寸：750 × 750 mm

          振動臺只可以在垂直軸向上振動